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製品の特徴:
· 1インチ画像フォーマット用に開発
· 波長: 900～1700m· 大口径、最大F1.4
· コンパクトで軽量な設計
SWIR Lens UN-GSWIR752S-14MP
For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.
· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design
UN-GSWIR1614C
| Ge min iシリーズSWIRレンズ |
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| モデル |
UN-GSWIR 16 14C |
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| 焦点距離 |
16mm _ |
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| 絞り |
F1.4 _ |
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| 画像フォーマット |
1インチ |
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| マウント |
C |
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| 画角 |
|
1インチ |
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| D |
54 ° |
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| H |
43.8 ° |
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| V |
33.4 ° |
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| 光学歪み |
< -0.6 % |
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| モッド |
0.3m _ |
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| 寸法 |
Φ54 * 63.00mm _ _ |
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| フランジBFL |
1 7。5 26mm |
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| 後焦点距離_ _ |
13.72mm |
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| 解決 |
80lp /mm |
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| 手術 |
マニュアルアイリス |
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| マニュアルフォーカス |
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| 設計波長 |
900～1700nm |
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| フィルタースレッド |
M52x0.75 |
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UN-GSWIR2514C
| Ge min iシリーズSWIRレンズ |
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| モデル |
UN-GSWIR 25 14C |
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| 焦点距離 |
25mm _ |
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| 絞り |
F1.4 _ |
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| 画像フォーマット |
1インチ |
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| マウント |
C |
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| 画角 |
|
1インチ |
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| D |
61.93 ° |
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| H |
52.21 ° |
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| V |
40.1 ° |
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| 光学歪み |
<- 0.96 % |
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| モッド |
0.3m _ |
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| 寸法 |
Φ36.5 * 54.91mm _ _ |
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| フランジBFL |
1 7。5 26mm |
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| 後焦点距離_ _ |
11.51mm |
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| 解決 |
80lp /mm |
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| 手術 |
マニュアルアイリス |
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| マニュアルフォーカス |
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| 設計波長 |
900～1700nm |
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| フィルタースレッド |
M34 × 0.5 |
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UN-TFA0628S-6MP
製品の特徴:
· 1/1.8インチの画像フォーマット用に開発
· 低歪み
· 高い相対照度
· フォーカスと絞りはネジで固定
製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。
Line Scan Lens UN-ALS14028SIR-4K
UN-TFA0921C
製品の特徴：
1. 2/3インチフォーマットセンサーに対応
2.超小型設計
3. 超低歪み
4. 高い相対光度
5. 高いコストパフォーマンス
6. フォーカスおよびアイリスの固定ネジを付属します。
製品情報:ご要望に応じてカスタムデザインも承ります。
