UN-SB1181X

製品の特徴:

· 2/3インチ画像フォーマット用に開発
· 低歪み
· 高い相対照度

· フォーカスと絞りはネジで固定

製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

製品の特徴:

· 1/1.8インチの画像フォーマット用に開発
· 低歪み
· 高い相対照度

· フォーカスと絞りはネジで固定

製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.

· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

製品の特徴:

· 1/1.8インチの画像フォーマット用に開発
· 低歪み
· 高い相対照度

· フォーカスと絞りはネジで固定

製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。