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国連CLS963.5/V45

製品の特徴:


· 広い作動距離範囲をカバー

· 非常に低い歪みと高解像度

· 距離と絞りの設定をロック可能



製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。


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製品の特徴:


· 広い作動距離範囲をカバー

· 非常に低い歪みと高解像度

· 距離と絞りの設定をロック可能



製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。


UN-CLS604.0/M58
UN-CLS604.0/M58

製品の特徴:


· 広い作動距離範囲をカバー

· 非常に低い歪みと高解像度

· 距離と絞りの設定をロック可能



製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。


UN-CLS904.5/M58
UN-CLS904.5/M58

製品の特徴:


· 広い作動距離範囲をカバー

· 非常に低い歪みと高解像度

· 距離と絞りの設定をロック可能



製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

国連CLS954.5/V45
国連CLS954.5/V45

製品の特徴:


· 広い作動距離範囲をカバー

· 非常に低い歪みと高解像度

· 距離と絞りの設定をロック可能



製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。


UN-TFA1624L-12MP
UN-TFA1624L-12MP

製品の特徴:


· 高い相対照度と高いコントラスト
· 低歪みと優れたコーナー輝度

· 高解像度

· 互換性のある1.2インチ12MPカメラ


製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

UN-TFA2528X-45MP
UN-TFA2528X-45MP

製品の特徴:


· 高い相対照度と高いコントラスト
· 低歪みと優れたコーナー輝度

· 高解像度

· 4/3インチ 45MPカメラに対応


製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

UN-GSWIR3514C
UN-GSWIR3514C
· 1 インチ画像フォーマット用に開発
· 波長: 900-1700nm
· 大口径、最大 F1.4
· コンパクトで軽量なデザイン
SWIR Lens UN-GSWIR752S-14MP

For Semiconductor Wafer Inspection, Biomedical Imaging, Logistics Package Sorting, Wildfire Detection & Ember Monitoring, etc.


· Developed for 1.1" image format
· Wavelength: 800-1700nm
· Large Aperture, up to F2.0
· Compact and lightweight design

Line Scan Lens UN-ALS14604L16K-0.5X

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.


· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

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