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製品の特徴:
・φ28画像フォーマット用に開発
· 波長: 900～1700nm
· 大口径、最大F1.4
· コンパクトで軽量な設計
UN-GSWIR1614C
| Ge min iシリーズSWIRレンズ |
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| モデル |
UN-GSWIR 16 14C |
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| 焦点距離 |
16mm _ |
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| 絞り |
F1.4 _ |
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| 画像フォーマット |
1インチ |
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| マウント |
C |
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| 画角 |
|
1インチ |
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| D |
54 ° |
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| H |
43.8 ° |
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| V |
33.4 ° |
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| 光学歪み |
< -0.6 % |
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| モッド |
0.3m _ |
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| 寸法 |
Φ54 * 63.00mm _ _ |
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| フランジBFL |
1 7。5 26mm |
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| 後焦点距離_ _ |
13.72mm |
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| 解決 |
80lp /mm |
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| 手術 |
マニュアルアイリス |
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| マニュアルフォーカス |
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| 設計波長 |
900～1700nm |
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| フィルタースレッド |
M52x0.75 |
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UN-TFA1220X-12MP
| Taurus シリーズ4/3インチフォーマット FA レンズ ( 12 MP) |
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| モデル |
UN-TFA1220X-12MP |
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| 焦点距離 |
12mm _ |
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| 絞り |
F2.0 ～F22 |
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| 画像フォーマット |
4/3インチ(23mm) |
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| マウント |
C |
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画角 奥行き×高さ×奥行き(°) |
|
4/3インチ |
1インチ |
1/2" |
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| D |
89.1° |
6 9．0 ° |
37.4 ° |
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| H |
7 5．6 ° |
57.36 ° |
30.2 ° |
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| V |
61．2 ° |
４４．3 ° |
22.7 ° |
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| 光学歪み |
-2.05%@ y=11.5mm |
-1.73%@ y=8.0mm |
-1.01%@ y=4.0mm |
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| モッド |
0.15m |
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| 寸法 |
Φ79.8 × 83.8mm _ _ |
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| バック焦点距離 |
18.8mm |
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| 手術 |
マニュアルアイリス |
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| マニュアルフォーカス |
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| 設計波長 |
420~1000nm |
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| フィルタースレッド |
M77.0×P0.75 |
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| 重さ |
438g |
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| 作業温度_ |
-20℃ ～+60 ℃ |
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高反射広帯域ダイクロイックミラー
Line Scan Lens UN-ALS14604L16K-0.5X
For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.
· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge
Product information: Custom designs are available upon request.
