UN-GSWIR2519L

製品の特徴:

・φ28画像フォーマット用に開発
· 波長: 900～1700nm
· 大口径、最大F1.4
· コンパクトで軽量な設計

製品の特徴:

・φ28画像フォーマット用に開発
· 波長: 900～1700nm
· 大口径、最大F1.4
· コンパクトで軽量な設計

製品 マウサー特徴：

1. 2 / 3 ''フォーマットセンサー

2 超小型 設計

3。 ..超低歪み

4 高い相対照明

5. ..高コストパフォーマンス

6. ..フォーカスとアイリスのロックを備えています。

製品 情報： カスタムデザインがあります リクエスト

ダウンロード データシート UN-TFA3518C

・高い相対照度、高いコントラスト

・低歪みで優れたコーナー輝度

・高解像度

· 1インチおよび1.1インチの20MPカメラと互換性があります。

For high-end PCB AOI inspection, Mini/Micro LED panel micro-defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow precision metal strip flaw detection, luxury printing anti-counterfeit texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic inspection and high-precision linear dimension measurement of tiny electronic components.

· Developed for 66mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.

製品の特徴:

· 30mmビッグフレームセンサー用に開発

· 優れた光学性能、中心部と周辺部の均一な画像

製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

製品の特徴:

· 1/1.8インチの画像フォーマット用に開発
· 低歪み
· 高い相対照度

· フォーカスと絞りはネジで固定

製品情報: リクエストに応じてカスタムデザインも承ります。

For high-end PCB AOI micro-inspection, Mini/Micro LED panel pixel defect detection, photovoltaic silicon wafer EL hidden crack inspection, narrow high-temperature metal strip flaw detection, luxury anti-counterfeit printing texture inspection, electronic ceramic substrate microscopic testing, UAV high-precision aerial survey mapping and ultra-precise online dimensional measurement of micro electronic components.

· Developed for 82mm big frame sensor
· Low distortion
· Compatible for 16K line scan camera
· Excellent optical performance, uniform imaging of center and edge

Product information: Custom designs are available upon request.